VEO+ 多功能相控陣探傷儀

VEO+ 多功能相控陣探傷儀是一款便攜式超聲波相控陣探傷儀,.其特點是操作簡單、高性能、功能*。技術(shù)人員可以能輕易以手指觸摸操作。儀器采用直觀的菜單系統(tǒng)和工作驅(qū)動流程，有完整的說明菜單和向?qū)Р僮鳎瑫層脩敉ㄟ^掃描同時優(yōu)化。聲速、延遲、TCG、 DAC、TOFD的設(shè)置及編碼器校準(zhǔn)的快速高效向?qū)В鳛闃?biāo)準(zhǔn)提供。

VEO+ 多功能相控陣探傷儀能滿足大部份無損檢測(NDT)需要, 典型應(yīng)用包括焊縫檢測、腐蝕檢測、宇航領(lǐng)域和復(fù)合檢測等。

●多種配置可選：32:128PR, 16:128PR, ?16:64PR, 32:64PR

●能實示顯示S, L, A, B, C, TOFD 掃描

●能同步超聲波及相控陣檢測

●實時成像技術(shù)和3D掃描融為一機

●具有集成數(shù)據(jù)記錄功能、可自動生成?PDF報告

●外殼堅固，符合IP66標(biāo)準(zhǔn)，可在?惡劣的環(huán)境條件下檢測

●具有中文操作界面

●內(nèi)建128GB SSD存儲盤

●支持WiFi無線連接

VEO+是一款便攜式超聲波相控陣探傷儀,.其特點是操作簡單、高性能、功能*。技術(shù)人員可以能輕易以手指觸摸操作。

儀器采用直觀的菜單系統(tǒng)和工作驅(qū)動流程，有完整的說明菜單和向?qū)Р僮鳎瑫層脩敉ㄟ^掃描同時優(yōu)化。

聲速、延遲、TCG、 DAC、TOFD的設(shè)置及編碼器校準(zhǔn)的快速高效向?qū)В鳛闃?biāo)準(zhǔn)提供。校準(zhǔn)狀態(tài)通過一個簡單的轉(zhuǎn)換系統(tǒng)清晰的顯示在屏幕上，veo是否已校準(zhǔn)用于檢測任務(wù)，操作者可一目了然。

VEO+能滿足大部份無損檢測(NDT)需要, 典型應(yīng)用包括焊縫檢測、腐蝕檢測、宇航領(lǐng)域和復(fù)合檢測等。

主要特點:

● 16:64 相控陣 (16 脈沖發(fā)生/接收器, 上升至64元素) 

● 可升級至16:128 (16 脈沖發(fā)生/接收器, 上升至128元素)

●  快速編碼器掃描,能實示顯示S, L, A, B, C, TOFD 掃描

●  能同步超聲波及相控陣檢測

●  內(nèi)建6GB 存儲盤, 能通過USB 鑰匙增加容量

●  熱插入式充電池

3D掃描圖

VEO+掃描支持多探頭和多重掃描，可從許多來源快速有效的設(shè)置檢測計劃。可從一定范圍的幾何學(xué)焊縫中選擇，并可顯示出你已選擇用于檢測工件的探頭。多重跳轉(zhuǎn)路徑顯示在3D掃描圖上，使用者可確保*覆蓋焊縫檢測。有簡單的參考點指示，可以快速確定探頭在工件上所處的位置。

TOFD

VEO+能包括用于TOFD檢測，采用的模擬濾波器及加上低噪聲的放大器，高速數(shù)據(jù)采集和高清晰度顯示，高品質(zhì)的TOFD掃描可以與相控陣同時查看。在焊縫檢測時，相控陣和TOFD檢測可以一起評價以提高可信度。

多重掃描

VEO+可以快速設(shè)置為顯示一個大范圍的多重掃描視圖。這允許使用者選擇一個重要的檢測視圖，并獲得顯示效果。扇形掃描、頂部、邊部和端視圖都可以結(jié)合多重A掃描視圖和TOFD。指針和標(biāo)尺可用于在視圖中識別軌跡，實時測量工具可顯示尺寸和注釋。

A掃描

VEO+支持傳統(tǒng)的用單晶探頭的超聲波檢測。高分辨率的LCD和快速的圖形重現(xiàn)，確保高的精度水平和快速的交互式波形顯示。由于高分辨率的LCD顯示，測量清晰易讀，寬屏幕模式提供了巨大的掃描視窗區(qū)域。

UT Studio

UT Studio是基于計算機的相控陣分析和生成報告的分析軟件。記錄的veo+數(shù)據(jù)文件可以很容易的通過U盤傳輸，并用于生成新的視窗和影像。使用者可以簡單的將veo+數(shù)據(jù)文件拖拽到顯示模板中以創(chuàng)建多個視窗。

軟件內(nèi)包括了強大的測量指針和抽取器用于識別軌跡、尺寸和標(biāo)注缺陷。容易生成報告，并以PDF格式輸出。