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當前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 無損檢測設(shè)備 > X射線 > Scan X EllipseScan X Ellipse計算機X射線成像系統(tǒng)
簡要描述：Scan X Ellipse計算機X射線成像系統(tǒng)提供靈活性的成像板掃描?方式,可掃描任意?長度、不同形狀的成像板,還能同時掃描多張成像板,并能對多張成像板進?一次性擦除。
產(chǎn)品型號：Scan X Ellipse廠商性質(zhì)：代理商更新時間：2024-07-06訪 問 量：1100產(chǎn)品分類
Product classification詳細介紹
Scan X Ellipse計算機X射線成像系統(tǒng)
?分辨率可達12.5 μm
- 基本空間分辨率可達40μm
- IP板重復(fù)使?用多達25000次
- BAM實驗室認證產(chǎn)品
- 灰度等級可達16 bit
- 顯著減少曝光時間
- 操作簡單、維護?方便
- 以太?數(shù)據(jù)交換
Scan X Ellipse計算機X射線成像系統(tǒng)
可讓?用戶定義掃描分辨率。 掃描分辨率從20 μm到100 μm可調(diào),既適用于高精度焊縫檢測,也能滿?短曝光時間、檢測速度快的應(yīng)?場合。?極調(diào)節(jié)的掃描分辨率確保能以掃描參數(shù)滿?各種檢測應(yīng)?領(lǐng)域的需求。
高分辨率成像板和ScanX Discover HR掃描儀相結(jié)合,基本空間分辨率可以達到40 μm。
無論檢測環(huán)境是在生產(chǎn)現(xiàn)場或是實驗室,ScanX Discover HR*的特性、超高的圖像質(zhì)量以及多功能性可滿足各種苛刻的需求。通過選擇不同成像板類型,調(diào)整掃描參數(shù),用戶可以自定義圖像質(zhì)量和曝光時間來完成各種檢測。
ScanX Discover HR提供靈活性的成像板掃描?方式,可掃描任意?長度、不同形狀的成像板,還能同時掃描多張成像板,并能對多張成像板進?一次性擦除。
ScanX View軟件與掃描儀兼容性強,內(nèi)含的?工具有助于將檢測結(jié)果調(diào)節(jié)到顯?狀態(tài),且結(jié)果反復(fù)可調(diào)。
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